

ПРОБЛЕМЫ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ПОСЛОЙНОГО АНАЛИЗА МОДИФИЦИРОВАННЫХ ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ И ЗАЩИТНЫХ ПОКРЫТИЙ НА ОСНОВЕ НИТРИДОВ, КАРБИДОВ И КАРБОНИТРИДОВ МЕТАЛЛОВ, ПРИМЕНЯЕМЫХ В ЭНЕРГЕТИКЕ
Abstract
About the Authors
А. РыженковRussian Federation
О. Зилова
Russian Federation
Г. Качалин
Russian Federation
А. Батраков
Russian Federation
А. Бурмистров
Russian Federation
А. Лепехов
Russian Federation
References
1. Григорович K. B., Яйцева E. B. Спектрометры тлеющего разряда - новое перспективное направление в приборостроении // Аналитика и контроль. 2002. Т. 6. №2. С.143 - 150.
2. Углов В. В. Методы анализа элементного состава поверхностных слоев: пособие для студентов спец. - 31 04 01 «Физика (по направлениям)» и 1 - 31 04 02 «Радиофизика» / В. В. Углов, Н. Н. Черенда, В. М. Анищик. - Минск: БГУ, 2007. 167 с.
3. Спрыгин Г. С. Особенности количественного послойного анализа тонких покрытий на спектрометрах тлеющего разряда // Перспективные материалы. - 2010. - С.242-246.
4. Шапон П. Определение общего содержания элементов и анализ слоев с помощью оптической спектроскопии высокочастотного тлеющего разряда // Аналитика и контроль. - 2007. Т. 11. №1. - С.46 -51.
5. Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок: Пер. с англ. - М.: Мир, 1989.
Review
For citations:
, , , , , . Safety and Reliability of Power Industry. 2014;(2):46-51. (In Russ.)